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2013年10月20日

Sunpower社「E20/327」パネルが「PV Evolution Labs」によるPIDテストで、600時間後の出力低下が0.2%に留まる

Sunpower社が2013年10月18日に、自社の太陽電池パネル「E20/327」について、第三者機関「PV Evolution Labs」(カリフォルニア州)によるPID耐性試験で優れた結果を収めたことを発表していました[1]。

概要は下記の通り。

試験の内容

  • テスト環境
    高湿度・高温の環境(国際試験規格で定められている)に600時間晒し、また最大定格電圧ストレスをかける。
  • チェック項目
    耐久性を監視するために
    ・目視検査
    ・フラッシュ・テスト
    ・高解像度エレクトロルミネッセンス像
    によるデータが取得され、PIDプログラムの合否判定の基準と比較される。
  • 合格条件:
    100時間経過後:出力低下が5%未満
    600時間経過後:同10%未満

試験の結果

  • 合格した製品:約半数
  • 試験後の出力低下
    ・「E20/327」:0.2
    ・試験をパスした従来型のパネル:平均4〜5
    ・試験をパスできなかった従来型パネル:18〜87
    (※従来型モジュールの平均的な仕様は、出力240W、変換効率15%、面積1.6m2

試験における温度・湿度・電圧の具体的な数字、また「conventional panels」というのが具体的にどのような製品を指しているのか(自社の旧モデル?)、といった点は明記されていませんが、少なくとも試験時間については、当ブログでこれまでチェックしてきたPID試験(48〜196時間)と比べて格段に長く、50%という全体の合格率の低さと合わせて、試験環境の過酷さが想像されます。

その中で「E20/327」が劇的に優れた結果(出力低下の低さ)を示したことには驚かされますが、他方でこの製品は住宅の屋根設置向けとのこと[2]で、そこまで高い性能が必要なのか、という点は少し疑問です。

とはいえ、実際の製品で高いPID耐性が示されたことで、Sunpower社は今後はその技術を生かし、産業用パネルのPID耐性向上も大幅に進めることになるのでは、と予想します。


※参照・参考サイト:
[1]SunPower E20/327 Solar Panels Achieve Lowest Potential Induced Degradation(Sunpower社)
http://us.sunpowercorp.com/about/newsroom/press-releases/?relID=137220
[2]SunPower E-Series Solar Panels(同上)
http://us.sunpowercorp.com/homes/products-services/solar-panels/e-series/
[3]PV EVOLUTION LABS
http://www.pvel.com/

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posted by 管理人 at 03:50 | Comment(2) | PID関係
この記事へのコメント
おそらくIEC規格のダンプヒートテスト(1000V)を実施したのかと思います。他社製品の合格率が非常に低いのに驚きました(意図的に選択しているとは思いますが)。
1000時間で、高温多湿な東南アジアで20年の使用に相当すると記憶しています。
日本での使用であれば、1000時間くらいを見ておけば十分だと思います。。といっても、1000時間のテストをしている企業は大手でも半分くらいでしょうか。

SunP社はたしか、4000時間まで耐久テストをしていたと記憶していますが、第三者認証がなかったのかもしれませんね。
Posted by kyouisan at 2013年10月23日 22:57
詳しい情報、ありがとうございます。
条件は想像以上に厳しいんですね。
メーカーごとの認証の状況には、もっと注目する必要がありそうですね。
Posted by 管理人 at 2013年10月24日 05:51
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