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2014年03月20日

産総研が高いPID耐性を持つCIGS型モジュールを開発、封止材をEVAからアイオノマーに変更

産業技術総合研究所2014年3月18日に、

  • 封止材の素材にアイオノマーを用いて、高いPID耐性を持つCIGS太陽電池モジュールを開発した。
と発表していました[1]。

概要は下記の通り。

PID発生の検証

  • 試験方法:産総研独自の「AIST法」 モジュールのガラス基板上に固定したアルミ板と、太陽電池を接続。 これに-1000Vの電圧を、セ氏85度の温度条件で数時間〜1ヶ月程度かける。
  • 対象モジュール
    結晶シリコン
    薄膜シリコン
    標準型CIGS(封止材にEVAを使用)
  • 今回の試験期間2時間〜7日間
  • 結果
    出力の変化
     ・結晶シリコン:数時間で、出力が開始時の数%以下に低下した。
     ・薄膜シリコン:3日で、結晶型と同程度まで低下した。
     ・標準型CIGS:3日後で92%、7日後で46%の出力が維持された。
    CIGSの出力低下の原因
     詳細な検討の結果、(シリコン系と同じく)カバーガラスから拡散するナトリウムイオン等が主原因と判明した。

CIGSモジュールでの標準型・PID対策の比較

  • PID対策モジュールの特徴
    封止材について、EVAフィルムの替わりにアイオノマーフィルムを用いている。
    (アイオノマーは高い体積抵抗率を持ち、ナトリウムイオン等の拡散を防止する)
    他は標準型と同じ。
  • 試験条件:-1000V、セ氏85度、〜28
  • 結果
    ・標準型モジュール:試験開始から14日後に、出力は約30%まで低下した。
    ・PID対策モジュール:28日後でも、出力低下が全く起こらなかった。

メーカー製の市販製品ではなく、あくまで産総研が試験用に作成したモジュールとはいえ、薄膜型でPIDが起こることがはっきり示されたのは驚きました。

日清紡などによる結晶シリコン型での研究によると、EVAの劣化で生じる酢酸がPID発生に関わっており、またセル自体の半導体的構造は変化しない(セル表面へのナトリウムイオンの堆積による)[2]とのことで、それを考えると、セルの形式・素材が異なる薄膜型でPIDが発生しうるというのは、納得できる気がします。

今回の産総研の発表でも、封止材のEVAがPID発生の(恐らく)最大の要因となっているので、(従来のEVA封止材を使ったモジュールを設置している)既設の産業用太陽光発電設備では、今後年数が経過した際の出力変化に、十分気をつける必要があると思われます。

一方で、ケミトックス社による封止材の比較試験では、EVA各製品のPID耐性が向上していることも確認されており[3]、今後生産・供給されるパネルについては、出力低下の可能性は低減されているものと推測します。

また2年前の独Fraunhoferによる試験の時点で、PIDによる出力低下が認められなかったメーカーが4社ありましたが、それらと他メーカーの間で(モジュールに)結局どのような違いが存在したのか、というのも気になるところです。


※参照・参考サイト:
[1]PIDによる劣化が起こらないCIGS太陽電池モジュールを開発(産総研)
http://www.aist.go.jp/aist_j/press_release/pr2014/pr20140318/pr20140318.html
[2]月刊「PVeye」誌 2014年3月号
[3]月刊「Solvisto」誌 2014年2月号

※関連記事:
posted by 管理人 at 00:25 | Comment(0) | PID関係

2013年10月20日

Sunpower社「E20/327」パネルが「PV Evolution Labs」によるPIDテストで、600時間後の出力低下が0.2%に留まる

Sunpower社が2013年10月18日に、自社の太陽電池パネル「E20/327」について、第三者機関「PV Evolution Labs」(カリフォルニア州)によるPID耐性試験で優れた結果を収めたことを発表していました[1]。

概要は下記の通り。

試験の内容

  • テスト環境
    高湿度・高温の環境(国際試験規格で定められている)に600時間晒し、また最大定格電圧ストレスをかける。
  • チェック項目
    耐久性を監視するために
    ・目視検査
    ・フラッシュ・テスト
    ・高解像度エレクトロルミネッセンス像
    によるデータが取得され、PIDプログラムの合否判定の基準と比較される。
  • 合格条件:
    100時間経過後:出力低下が5%未満
    600時間経過後:同10%未満

試験の結果

  • 合格した製品:約半数
  • 試験後の出力低下
    ・「E20/327」:0.2
    ・試験をパスした従来型のパネル:平均4〜5
    ・試験をパスできなかった従来型パネル:18〜87
    (※従来型モジュールの平均的な仕様は、出力240W、変換効率15%、面積1.6m2

試験における温度・湿度・電圧の具体的な数字、また「conventional panels」というのが具体的にどのような製品を指しているのか(自社の旧モデル?)、といった点は明記されていませんが、少なくとも試験時間については、当ブログでこれまでチェックしてきたPID試験(48〜196時間)と比べて格段に長く、50%という全体の合格率の低さと合わせて、試験環境の過酷さが想像されます。

その中で「E20/327」が劇的に優れた結果(出力低下の低さ)を示したことには驚かされますが、他方でこの製品は住宅の屋根設置向けとのこと[2]で、そこまで高い性能が必要なのか、という点は少し疑問です。

とはいえ、実際の製品で高いPID耐性が示されたことで、Sunpower社は今後はその技術を生かし、産業用パネルのPID耐性向上も大幅に進めることになるのでは、と予想します。


※参照・参考サイト:
[1]SunPower E20/327 Solar Panels Achieve Lowest Potential Induced Degradation(Sunpower社)
http://us.sunpowercorp.com/about/newsroom/press-releases/?relID=137220
[2]SunPower E-Series Solar Panels(同上)
http://us.sunpowercorp.com/homes/products-services/solar-panels/e-series/
[3]PV EVOLUTION LABS
http://www.pvel.com/
posted by 管理人 at 03:50 | Comment(2) | PID関係

2013年05月22日

産総研が結晶シリコン型パネル向けのPID抑制技術を開発、複合金属化合物(酸化チタン系)をガラスのセル側にコーティング

産業技術総合研究所2013年5月22日に、

  • 結晶シリコン型太陽電池パネルにおける、PID現象による出力低下を防ぐ技術を開発した。
と発表していました。

産総研のサイト[1]によると、技術の概要は下記の通り。

  • 手法
    ガラス基板の表面(セル側)に、酸化チタン系の複合金属化合物を含む溶液を、ドクターブレード法によりコーティング。
    これを乾燥させた後、200〜450度で約15分間加熱焼成し、薄膜を形成する。
    この薄膜により、ガラス基板からのナトリウムイオン等の拡散を防止し、出力低下を抑える。
    (※「サスティナブル・テクノロジー(STi)」社が保有する、無機酸化物などのコーティング技術を活用している)
  • 効果の検証
    標準型モジュールとPID対策済みモジュールの各々について、PID試験(-1,000V、セ氏85度、2時間)の前後に疑似太陽光の照射を行い、電流電圧特性を比較。
    この結果、
    標準型モジュール:変換効率が15.9%から0.6%に低下
    PID対策済みモジュール:変換効率の低下は僅少
    との効果が確認された。
  • 今後の見通し・方針
     酸化チタン系複合金属化合物は、
     ・比較的低コスト
     ・簡易な製膜方法、低温焼成で製膜可能
     ・使用量が少なく済む
     との長所を持っているため、本手法は太陽電池パネルのPID対策の有望な候補の一つとして期待される。
    ・今後は早期実用化を目指し、
     ・酸化チタン系複合金属化合物薄膜の材質・膜厚・製膜条件などの最適化
      (それによるPID現象の抑制効果の向上とその実証)
     ・PID現象の抑制メカニズムのより詳細な解明
     ・大面積モジュールでの実証試験
     等に取り組む予定。

EVA素材の封止材でPID現象が発生しやすいとの検証結果は、ケミトックス社が既に公表していますが、今回はガラス面での対策とのことで、やはりセルとガラス間にPID発生の要因がある、ということでしょうか。

薄膜の素材が低コストとはいえ、既存のパネル製造工程に新たな工程を加えるとなると、コストアップは避けられないとは思いますが、PIDに強い封止材の採用とどちらが合理的か、という点は気になるところではあります。

いずれにせよ規模が大きい産業用設備では、発電性能の長期間維持の重要さを考えると、PID対策を施したパネルを採用するメリットは大きいと思われるので、今回の手法も早期の確率・実用化を強く期待したいです。


※参照・参考サイト:
[1]結晶シリコン太陽電池モジュールの出力低下を伴う劣化現象の抑制技術(産総研)
http://www.aist.go.jp/aist_j/press_release/pr2013/pr20130522/pr20130522.html
posted by 管理人 at 23:25 | Comment(0) | PID関係

2013年03月23日

島津製作所が結晶シリコン型セル用の反射防止膜成膜装置「MCXS」を商品化、低周波・高密度プラズマによる高速成膜でPID耐性も実現

島津製作所が2013年3月22日に、

結晶シリコン型太陽電池セルの生産プロセス用として、
 ・反射防止膜成膜装置「MCXS」
 ・検査装置「SCI」シリーズの2機種
 の計3機種を発売する。

との予定を発表していました。

同社のサイト[1][2]によると、このうち「MCXS」の概要は下記の通り。

・背景:
 世界的に太陽光発電の需要が高まる中で、太陽電池には
 ・製造コストの低減
 ・PIDに対する高い耐性
 を求める要求が高まっている。
 そして反射防止膜とその成膜装置についても、これらの要求に応えるべく、高水準の性能と生産性が求められている。

・主な特徴:
 ・高いスループット
  高密度プラズマを生成するホローカソードプラズマソースを新開発。
  原料ガスの分解効率を高めたことで、成膜レート100nm/min以上を実現した。
  また、インライン型高速搬送機構を採用したことで、スループットは1,700枚/h以上に達している。
 ・低いランニングコスト
  ・高速成膜
  ・装置の小型化(縦型基板配置による)
  ・メンテナンス周期の長期化
  により、同社従来機と比べて
  ・消費電力:1/3
  ・ランニングコスト:1/2
  に抑えられる。
 ・変換効率アップに寄与
  高密度プラズマが、基板の表面・内部の結晶欠陥を修復し、太陽電池の特性を改善する。
 ・高いPID耐性の実現
  低周波・高密度プラズマにより高速に成膜を行うため、結晶シリコン型太陽電池モジュールに高いPID耐性をもたらすことができる。
  産総研主催の「第II期高信頼性太陽電池モジュール開発・評価コンソーシアム」において、
  ・温度:摂氏25
  ・モジュール表面ガラスを水に浸した状態
  ・電圧:1,000V
  の条件下で168時間試験を行った結果、本装置により成膜した太陽電池モジュールで、出力低下は起こらなかった。

・システム価格:1億7,000万円 (自動移載機含む、税別)
・サイズ:幅4,000mm×奥行き7,500mm×高さ2,500mm (装置本体、自動移載機含む)
・販売計画:初年度は20台。


セル表面の反射防止膜の製膜方法によりPID耐性を持たせられる、というのはちょっと意外でしたが、セル・フレーム間の漏れ電流がPIDの原因である以上、その経路を絶つには幾つかのアプローチがある、ということでしょうか。

太陽電池モジュールのPID耐性についてはまだ「認証」が無いとのこと[3]で、当面はメーカー側の自主的な性能向上・維持の取り組みが重要になると思われるので、今回の装置がそれに寄与することを期待したいところです。


※参照・参考サイト:
・[1]太陽電池セルの生産を支援する反射防止膜成膜装置「MCXS」・セル検査装置「SCI」シリーズを発売
 http://www.shimadzu.co.jp/news/press/n00kbc0000000vkb.html
・[2]太陽電池反射防止膜成膜装置(同上)
 http://www.shimadzu.co.jp/products/semicon/products/solarcell/slpc/
・[3]発電システムの運用に欠かせないポイント(2):機器の選定、諸手続き(スマートジャパン)
 http://www.itmedia.co.jp/smartjapan/articles/1303/22/news019.html


※関連記事:
島津製作所の太陽電池成膜装置の海外販売が好調(2008/08/08)
島津製作所の太陽電池向け反射防止膜成膜装置は、国内シェア100%、海外シェアも20%(2009/06/25)
島津製作所が、ドイツの太陽電池製造装置メーカーに、成膜装置のOEM供給を開始(2009/07/29)
posted by 管理人 at 04:05 | Comment(0) | PID関係

2013年02月05日

ケミトックス社が封止材の製品別にPID発生を検証、EVAの7製品のうち6製品でPIDが発生

ケミトックス社が、複数種類の太陽電池モジュール用封止材について、PID現象発生の有無を確認する試験を実施したとのことです。

(ニュース記事)
・ケミトックス、太陽電池モジュール用封止材試験−7種に「出力低下」抑制効果(日刊工業新聞)
 http://www.nikkan.co.jp/dennavi/news/nkx0520130205qtkb.html

(企業サイト)
・ケミトックス
 http://www.chemitox.co.jp/

上記URL先ページによると、試験の概要は下記の通り。

・対象の封止材:
 ・素材:下記の計13種類。
  ・エチレン酢酸ビニル共重合樹脂EVA):7
  ・アイオノマー1
  ・オレフィン系4
  ・シリコン1
 ・メーカー:国内外の11社。(※社名は非公表)

・試験方法:
 ・PID現象が発生する太陽電池セル
 ・試験対象の封止材
 を用いて作成した太陽電池モジュールに対し、
 ・温度:セ氏60
 ・湿度:85
 ・電圧:1,000V
 ・時間:96時間
 の条件下で試験を行った。

・試験の結果:
 ・EVA
  6種類で出力低下(うち1種類は90%以上低下)が確認された。
  残り1種類は、ほぼ低下しなかった。
 ・他の6種類
  出力低下はみられなかった。


EVAは太陽電池モジュール用の封止材で主流の素材だと思いますが、その製品の大部分でPID現象の発生が確認された、ということに強く驚きました。

モジュールの構造上、セルに直接接触する封止材は漏れ電流の発生・防止において、非常に重要な役割を担う部分だと思いますが、製品別に明確な検証結果が確認されたのであれば、今後の封止材市場に甚大な変化をもたらすことになるのでは、と考えます。

また、フラウンホーファによる試験でPIDの発生が確認されたモジュールについて、封止材さえ変更すればPIDの耐性を大幅に向上できるものなのか、という点も非常に気になるところです。


※関連記事:
Q-Cellsの多結晶型モジュール「Q.PRO」が、Fraunhofer CSPによる耐PID試験において、最大出力の保証性能を証明(2012/06/23)
独FraunhoferのPIDテストで問題無しのメーカーは、京セラ・シャープ・Q-Cells・LG電産の4社とのこと
posted by 管理人 at 08:42 | Comment(0) | PID関係

2013年01月23日

カネカの薄膜シリコン太陽電池モジュールが、自社内とケミトックス社の試験でPID耐性を実証

カネカ社が2013年1月23日に、

・子会社「カネカソーラーテック」の薄膜シリコン太陽電池モジュールが、自社内および第三者機関(ケミトックス社)による試験で、PIDに対する高い耐性を持つことが実証された。

と発表していました。

(ニュース記事)
・カネカ、薄膜シリコン太陽電池モジュールのPID試験耐性を実証(日経プレスリリース)
 http://release.nikkei.co.jp/detail.cfm?relID=328528&lindID=4

(カネカのサイト内ページ)
・当社薄膜シリコン太陽電池モジュールのPID試験耐性を実証
 http://www.kaneka.co.jp/service/news/130123

上記URL先ページによると、今回の試験はIEC82/685/NPに準拠しており、条件は下記の通り。

・温度:60
・相対湿度:85
・印荷電圧:
 ・産業用:1,000V
 ・住宅用:600V
・試験時間:96時間

カネカ社の薄膜シリコン太陽電池は、ガラスとセルの間にアルカリバリア層を設けており、これがガラス中のアルカリ成分のセルへの移動(PIDの原因の一つと考えられている)を防止する効果がある、と考えられているとのことです。


結晶シリコン型以外のモジュールでのPID試験の実施はまだ珍しいケースだと思いますが、産業用太陽光発電の増加に伴いPID現象に対する関心・問題意識が高まっている現状では、メーカー・製品の信頼性をアピールする上で必要な取り組み、ということでしょうか。

変換効率では結晶シリコン型に一歩譲る薄膜型が、PID耐性でのメリットで産業用でのシェアを拡大していく可能性もあるのか、市場の動向に注目していきたいところです。


※関連記事:
カネカの「薄膜シリコンハイブリッド太陽電池」の特徴を紹介している「物流Weekly」の記事(2012/06/20)
posted by 管理人 at 22:50 | Comment(0) | PID関係

中国JinkoSolar社が新モジュール「Eagleシリーズ」を発表、セ氏85度・相対湿度85%の環境下でPIDフリーが認定されているとのこと

中国の「晶科能源JinkoSolar)」社が2013年1月18日に、「PIDフリー」という太陽電池モジュールの新製品「Eagleシリーズ」を発表していました。

(ニュース記事)
・◎JinkoSolarが世界初のPIDフリーの太陽電池を発表(japan.internet.com)
 http://japan.internet.com/release/270116.html

(JinkoSolarのサイト内ページ)
・JinkoSolar Unveils World's First Double 85 Certified PID Free Solar Module
 http://www.jinkosolar.com/press_detail_436.html

上記URL先ページによると、この製品はJinkoSolarのセル技術・組み立て技術を結集しており、下記の特徴を持つとのことです。

PID耐性
 ・温度:セ氏85
 ・相対湿度:85
 の環境下において、PID現象が起きないことが認定されている。

・出力:
 最大出力は260Wに達する。


「認定」を何処で受けたのかは今回の発表では記載されていませんが、環境の条件は昨年8月発表のTUV-SUDによる「アンチPID」の認証を取得したモジュールと一致しているので、そのモジュールが今回市販化された、ということなんでしょうか。

「PID Free」という表現にどの程度の信頼性があるのかは正直わかりませんが、例えば独FraunhoferのPIDテストで問題無しだった4社(京セラ・シャープ・Q-Cells・LG電産)の製品と比べてどうなのか、非常に気になるところです。


※関連記事:
晶科能源(JinkoSolar)が太陽電池モジュール「WINGシリーズ」を公開、厚さ30〜40mm・重さ0.5kgと薄型・軽量化(2012/07/04)
JinkoSolarの太陽電池モジュールが、TUV Rhinlandによる食塩水噴霧の腐食試験に合格(2012/07/19)
JinkoSolarの多結晶モジュールが、TUV-SUDによるセ氏85度/85%相対湿度の条件下でのテストで「アンチPID」の認証を取得(2012/08/22)

中国「Jinkosolar」が、仏「Saint-Gobain」グループに太陽電池モジュールを供給、ドイツで販売される予定(2010/10/24)
中国「浙江晶科能源」の太陽電池工場近くの川で魚が大量死、周辺住民数百人が抗議行動を行い、地元当局が操業停止を命令(2011/09/19)
中国「晶科能源」のCFOが、中国での太陽電池メーカーの淘汰により、生産能力が約75%削減・2013年4-6月期の生産能力は2,000万kW、等と予想(2012/01/25)
posted by 管理人 at 09:48 | Comment(0) | PID関係

2013年01月16日

パナソニックのHIT太陽電池モジュールが独「Fraunhofer CSP」の試験でPID耐性を実証、対象モジュール10枚全てで出力低下無しとのこと

パナソニック2013年1月15日に、

・自社のHIT太陽電池モジュールが、独「Fraunhofer Center for Silicon Photovoltaics CSP」の試験において、PID耐性を持つことが実証された。

と発表していました。

(パナソニックのサイト内ページ)
・パナソニックHIT 太陽電池がフラウンホーファー研究機構でPID耐性を実証
 http://panasonic.co.jp/corp/news/official.data/data.dir/2013/01/jn130115-1/jn130115-1.html

上記URL先ページによると、今回の試験条件は下記の通り。

・対象モジュール数:10
・気温:摂氏50
・相対湿度:50
・電圧:正・負1,000V
・時間:48時間

そして対象の全モジュールで、出力低下は起こらなかったとのことです。

また発表では、Fraunhofer CSPの責任者のマティアス・エヴァート博士による

・「パナソニックHIT太陽電池は他の太陽電池とは異なる独自の構造を持っています。
  この特徴に合わせ、正と負の両方の電圧で試験をすることにより、HIT太陽電池のPID耐性を証明できました」

とのコメントが紹介されています。


昨年行われた13メーカーのモジュールの試験では、日本メーカー2社(京セラシャープ)の製品が出力低下を起こさなかったことが確認されていましたが、今回は同じ研究機関での試験で、更に日本の1社の製品のPID耐性が優れていることが確認されたとのことで、湿度が高い日本のメーカーによる製品は、自ずから高いPID耐性を備えていた、ということなんでしょうか。

また、HIT太陽電池は構造上PIDが起こらないと解説されていますが、それが本当であれば、小規模な住宅用だけでなく(長期運用での安定稼動の面から、設置環境によっては)産業用での採用が進む可能性も有り得るのでは・・・と考えますが、REC社からの多結晶型モジュール調達との兼ね合いにも注目したいところです。


※関連記事:
パナソニックのHIT太陽電池のPID耐性が、自社内と第三者機関の検証により実証(2012/09/19)

Q-Cellsの多結晶型モジュール「Q.PRO」が、Fraunhofer CSPによる耐PID試験において、最大出力の保証性能を証明(2012/06/23)
京セラ製の産業用モジュールがフラウンホーファー研究機構により、PID現象での出力低下が起きない、と認可されたとのこと(2012/07/11)
シャープの太陽電池パネルが、フラウンホーファー研究機構の試験でPID現象が起きないことが確認(2012/07/21)
JinkoSolarの多結晶モジュールが、TUV-SUDによる華氏85度(セ氏約29.4度)/85%相対湿度の条件下でのテストで「アンチPID」の認証を取得(2012/08/22)
独FraunhoferのPIDテストで問題無しのメーカーは、京セラ・シャープ・Q-Cells・LG電産の4社とのこと(2012/09/04)
パナソニックのHIT太陽電池のPID耐性が、自社内と第三者機関の検証により実証(2012/09/19)
Suntech Power社が、自社モジュールがVDEにより優れたPID耐性を持つことが立証された、と発表(2012/11/04)
Upsolarの太陽電池モジュールが伊「産業機械認定協会」によるPID耐性試験に合格、温度はセ氏60度超(2012/12/02)
posted by 管理人 at 01:47 | Comment(2) | PID関係

2012年12月02日

Upsolarの太陽電池モジュールが伊「産業機械認定協会」によるPID耐性試験に合格、温度はセ氏60度超

Upsolar社が2012年11月20日に、

・自社製太陽電池モジュールが優れたPID耐性を備えていることが、イタリアの試験機関により実証された。

と発表したとのことです。

(ニュース記事)
・太陽光発電モジュールのPID耐性を証明=中国アップソーラー〔BW〕(時事ドットコム)
 http://www.jiji.com/jc/c?g=int_30&k=2012112900123
・アップソーラー社のモジュール、優れた長期性能を実証(財経新聞)
 http://www.zaikei.co.jp/releases/76085/

(Upsolar社のサイト掲載資料)
・アップソーラー社のモジュール、優れた長期性能を実証
 http://www.upsolar.co.jp/pdf/PID.pdf

上記URL先ページによると、概要は下記の通り。

・試験:
 ・実施機関;イタリアを拠点とする独立系認定機関「産業機械認定協会ICIM)」
 ・実施条件:
  「IEC 62804 Ed. 1.0規格」に準じている。
  ・待機湿度:85
  ・温度:セ氏60度超
  ・時間:96時間以上
  ・印加電圧:1,000V
  (これまで報告されている他機関の試験と比べ、最も厳しい条件とのこと)

・結果:
 著しい性能劣化の減少は発見されず、IECの基準値を大幅に上回る結果で合格した。


太陽電池モジュールのPID耐性検査については、当ブログでチェックしてきた限りでもメーカーにより実施機関が異なっており、一消費者としては各々の結果を結局どのように判断すれば良いのか理解しづらいので、今後は日本国内でも統一的な試験基準が設けられる必要があるのでは、と考えます。

とはいえ温度がセ氏60度以上というのは、私が知る限り確かに最も厳しい条件であり、Upsolar社のモジュールの性能が実際にはどの程度変化(低下)したのか、また他メーカーの製品が同一条件で試験された場合にどのような結果が得られるのか、非常に気になるところです。


※関連記事:
Q-Cellsの多結晶型モジュール「Q.PRO」が、Fraunhofer CSPによる耐PID試験において、最大出力の保証性能を証明(2012/06/23)
京セラ製の産業用モジュールがフラウンホーファー研究機構により、PID現象での出力低下が起きない、と認可されたとのこと(2012/07/11)
シャープの太陽電池パネルが、フラウンホーファー研究機構の試験でPID現象が起きないことが確認(2012/07/21)
JinkoSolarの多結晶モジュールが、TUV-SUDによる華氏85度(セ氏約29.4度)/85%相対湿度の条件下でのテストで「アンチPID」の認証を取得(2012/08/22)
独FraunhoferのPIDテストで問題無しのメーカーは、京セラ・シャープ・Q-Cells・LG電産の4社とのこと(2012/09/04)
パナソニックのHIT太陽電池のPID耐性が、自社内と第三者機関の検証により実証(2012/09/19)
Suntech Power社が、自社モジュールがVDEにより優れたPID耐性を持つことが立証された、と発表(2012/11/04)

Upsolar社の太陽電池モジュールを用いた太陽光発電システムが、J-PECの認証を取得(2011/03/01)
Upsolar社が、太陽電池モジュール全製品の保証期間を10年に延長(2011/09/09)
中国「Upsolar」社が、自社の太陽電池モジュール「UP-185M」「UP-230P」について、初期のライフサイクルアセスメントを終了(2012/01/21)
Upsolarが、新興メーカー向けに試験・検査・コンサルティングサービスを提供(2012/04/27)
posted by 管理人 at 01:41 | Comment(0) | PID関係

2012年11月04日

Suntech Power社が、自社モジュールがVDEにより優れたPID耐性を持つことが立証された、と発表

Suntech Power社が2012年11月1日に、

・国際的な試験・認証機関「VDE」により、自社モジュールが優れたPID耐性を持つことが立証された。

と発表したとのことです。

(サンテックパワージャパンのサイト内ページ)
・サンテックパワー太陽光発電モジュールのPID耐性を証明
 http://www.suntech-power.co.jp/news/2012/1101105.html

上記URL先ページによると、今回の試験は独テュフラインランドが推奨する検査方法に従い行われたもので、概要は下記の通り。

1.試験の前に、
 ・電気特性の測定
 ・電界発光(EL)イメージング検査
 により、モジュールの性能確認を行う。

2.モジュールの
 ・表面
 ・フレーム
 をアルミホイルで覆い、
 ・温度25
 ・湿度75
 の環境下で、DC1,000V168時間連続でモジュールに印加する。

3.再度、
 ・電気特性の測定
 ・ELイメージング検査
 を行い、試験前と比べて劣化・欠陥などの有無を確認する。

そしてサンテック社の発表では、この試験の結果について、

・モジュールの著しい劣化は見られず、問題無く出力レベルを維持することが確認された。
・今回の試験結果により、サンテックパワー社製品のPID耐性が十分であることが証明された。

等の見方が記述されています。


試験後のモジュールの性能について「問題なく」とされているものの、(試験内容の解説と対照的に)具体的にどのように「問題がない」のかは書かれていないのが、ちょっと気になります。(出力低下が全く起きないのか、それとも許容範囲内で低下するのか)

サンテック社の製品は、先に実施された独フラウンホーファによる試験の対象に挙がっていましたが、そちらのほうでの結果はどうだったのか、というのもかなり気になるところです。


※参考サイト:
・[1]VDE Global Services Japan Co.,Ltd.
 www.vdeglobalservices.com/ja/


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posted by 管理人 at 03:42 | Comment(0) | PID関係